適合于半導體行業液晶面板的檢測，微分粒子等DIC檢測。
1． 產品優點/特點介紹
XSK400顯微鏡為無限遠光學系統，長工作距離平場復消色差物鏡，穩定可靠的架臺，精確的調焦機構。采用LED用軸光源和LED透射光源照明。偏光系統檢偏鏡可調轉動100度便于偏光正交觀察。DIC棱鏡插板機構采用可調節的方式可得到最佳的微分干涉效果。大視野單目觀察，減少很多中間環節，使成像更清晰效果更好。配置高清模擬攝像機能快速捕捉高質量的清晰圖像。
XSK400顯微鏡穩定可靠，操作方便，成像清晰。廣泛應用于半導體、電子工業。對晶體、集成電路的檢驗和科學研究。可配置模擬攝像頭對所觀察的樣品進行拍照、儲存、測量、分析。
用途：
1． 明場觀察：使用亮度可調的同軸照明，對晶體、集成電路的檢驗、精密制造業的裝配、零件檢測和品質控制。
2． 透射觀察：采用亮度可調的透射照明，可觀察透明樣品，尤其對液晶顯示屏的檢測效果更好，能清楚的看到發光屏的三色模塊，因此能檢測顯示屏的好壞，可判斷其質量。
3． 偏光觀察：系統內裝置偏光機構，起偏鏡固定在照明系統；檢偏鏡裝置在成像系統、轉動100度可調，便于正交觀察。主要對金相樣品進行正交偏振光觀察，還可應用于礦物、化學等領域。
4． DIC觀察--微分干涉觀察：在明場、偏光正交的系統里再插入DIC棱鏡裝置（渥拉斯頓棱鏡）。（DIC）作為一種極具前途的分析檢驗方法，具有對金相樣品的制備要求較低，所觀察到的樣品各組成之間的相對層次關系突出，呈明顯的浮雕狀，對顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等能作出正確的判斷，能夠容易判斷許多明場下所看不到的或難于判別的一些結構細節或缺陷，可進行彩色金相攝影等優點。但在目前的金相檢驗工作中，（DIC）法還利用得很少。 特別是對液晶顯示屏導電板的檢測效果更好，能夠清楚的觀察到導電板基板上的導電粒子。使用DIC技術，可以使物體表面微小的高低差展現出清晰，輪廓突出，帶立體感的浮雕成像，極大的提高圖像的對比度。
2． 成像圖
